Низкочастотные шумы в наноразмерных полупроводниковых структурах. Источники, измерение, методы анализа

- Предлагаемая читателю книга представляет цикл исследований автора, посвящённых низкочастотным шумам в наноразмерных полупроводниковых структурах. В низкочастотных флуктуациях, по-видимому, находят свое отражение электронные и атомные процессы в веществе, характеризующие особенности микроструктуры твердых тел. Это дает возможность использовать низкочастотный шум для получения информации о качестве и надежности полупроводниковых структур. В первой главе в качестве источников низкочастотного шума рассматриваются бистабильные точечные дефекты, приводящие к флуктуациям электрофизических параметров полупроводникового материала. Во второй главе приведены теоретические и экспериментальные сведения об источниках шума в современных светоизлучающих приборах: лазерах на квантовых ямах и светодиодах на квантовых ямах и квантовых точках. В третьей главе проводится детальный анализ шумов наноразмерных полупроводниковых диодов Шоттки с дельта легированием. Книга предназначена для широкого круга научно-технических работников, студентов старших курсов и аспирантов, интересующихся проблемами шумов в полупроводниковых приборах современной радиоэлектроники.Внимание! На данный товар не распространяются ни оптовые, ни накопительные скидки. Эта книга будет изготовлена в соответствии с Вашим заказом по технологии Print-on-Demand. Print-on-Demand - это технология печати книг по Вашему заказу на цифровом типографском оборудовании.