Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
Цена 1.97 USD
EAN/UPC/ISBN Code
9785948360188
Автор
Д. Брандон, У. Каплан
Издатель
Техносфера
Страниц
384
Год выпуска
2006
Форма выпуска
70x100/16
Мир материалов и технологий Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.